مشخصات فایل:
پاورپوینت معرفی فلزات (درس متالورژی فیزیکی)
قالب بندی: پاورپوینت (قابل ویرایش)
تعداد اسلاید: 332

بخشی از پاورپوینت:

روش های آنالیز شیمیایی پودر ها
(1) optical atomic spectroscopy (atomic absorption,atomic emission, and atomic fluorescence),
(2) x-ray fluorescence spectroscopy,
(3) mass spectrometry,
(4) electrochemistry,
معمولا از AA و AE استفاده می شود
دقت بالایی دارد و درصد های کم را مشخص می کند.
از طول موج جذب یا خارج شده عنصر مشخص می شود و از شدت مقدار آن اندازه گیری می شود.
از نمونه های استاندارد استفاده می شود جهت مقایسه
ابتدا مقداری از پودر اتم های منفرد تجزیه شده که معمولا در حلال حل می شود. سپس به قطرات ریز تبدیل شده و به کمک حرارت تبخیر می شود
تبخیر به وسیله flame انجلم می شود که برای (B, V, Ta, W) عناصر دیرگداز مشکل دارد و عناصری که طیف رزونانسی فرابنفش دارند مشکل دارند مثل فسفر و گوگرد
AA سریع است ولی برای چند عنصر هم زمان مشکل دارند و اتوماتیک نمی شود.
گاهی از پلاسما استفاده می شوند(ICP
برای چند عنصر هم زمان استفاده می شود و برای عناصر دیرگداز هم مناسب است
از کوره ها هم استفاده می شوند. دقت بالاتری دارد اما کند است و در حالاتی که روش های دیگر کارایی ندارند استفاده می شود
XRF and XRD
3.5 SURFACE CHARACTERIZATION
شیمی و ساختار سطح اثر مهمی دارد و می تواند اثر مهمی روی رفتار تف جوشی داشته باشند..
SURFACE CHARACTERIZATION
خصوصیات سطح در اندازه های کمتر از 1 میکرون خیلی مهم می شوند
شیمی سطح اثر زیادی روی پراکنده سازی و ساختارهای ایجاد شده حین و بعد از تف جوشی دارند
به عنوان مثال دنس شدن و درشت شدن به وسیله شیمی سطح کنترل می شود و ترکیب مرزدانه های را در پایان کنترل می کنند
روش های مهم در پودر های سرامیکی مورد بررسی قرار می گیرد.
از برهم کنش سطح با اتم، یون، اشعه X الکترون، نوترون استفاده می شود
عمق مورد بررسی به انرژی آن بستگی دارد مثلا برای الکترون
1 MeV, depth : 1 m.
20–1000 eV, :1 nm.
3.5.1 Surface Structure
تخلخل ها و مرزهای بین ذرات روی سطح ظاهر می شود
تعداد همسایه در مکان های مختلف سطح متفاوت است وبنابراین ساختار سطح متفاوت است و خواص در مکان های مختلف متفاوت است مثل
terraces.
Steps
kink
, low energy electron diffraction (LEED), scanning tunneling microscopy (STM),
atomic force microscopy (AFM)
این روش ها باید سطح صاف باشد و محدودیت دارد
SEM(2 nm)
TEM
3.5.2 Surface Chemistry
خروجی ها می تواند
Electron, ion, and photon
باشد.
روش معمول
Auger electron spectroscopy (AES),
x-ray photoelectron spectroscopy (XPS),
secondary ion mass spectrometry (SIMS)
برای بررسی عمق از آنالیز لایه لایه استفاده می کنیم با استفاده از ion beam sputtering لایه لایه بر می برداریم و آنالیز کنیم و ترکیب را بررسی کنیم که به آن depth profiling می گویند ومهمترین روش آنالیز است
3.5.2.1 Auger Electron Spectroscopy
با مقایسه با نمودارهای استاندارد ترکیب سطح بررسی می شود.
سریع است و تکرار پذیری دارد. و دقت بهتر از 10 درصد است.
ترکیب شیمیایی و بیشتر برای آنالیز عنصراست.
- این پاورپوینت کاملا استاندارد بوده و در تهیه آن کلیه اصول نگارشی رعایت شده است.